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二手日本電子 JSM-7900F 場(chǎng)發(fā)射電鏡JEOL新一代FE-SEM旗艦機(jī)型。 它繼承了上一代廣獲好評(píng)空間分辨率、高穩(wěn)定性、多種功能等性能的同時(shí)，操作性能簡(jiǎn)單化。 該設(shè)備不依賴操作者的技能，始終能夠發(fā)揮其最佳性能。

二手 日立 S-3400 掃描電鏡 （SEM）擁有新開發(fā)的電光系統(tǒng)，具有更多的自動(dòng)化功能，結(jié)合了自動(dòng)軸功能，包括自動(dòng)橫梁設(shè)置、自動(dòng)同軸軸。還具有3kV時(shí)低加速電壓保證10nm分辨率、實(shí)時(shí)顯示兩幅圖像、實(shí)時(shí)全屏圖像等特點(diǎn)。高性能用于觀察和分析材料的表面形貌和微結(jié)構(gòu)。

二手 日立 S-3400N 掃描電鏡 在材料科學(xué)、半導(dǎo)體研發(fā)和工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域，高精度微觀分析能力是推動(dòng)技術(shù)突破的關(guān)鍵。日立 S-3400N 型掃描電子顯微鏡（SEM）憑借其成像性能和多功能分析能力，成為科研機(jī)構(gòu)與企業(yè)的核心檢測(cè)工具。作為行業(yè)的設(shè)備解決方案供應(yīng)商,推出的日立 S-3400N 租售服務(wù)，以靈活的模式、專業(yè)的技術(shù)支持和全周期服務(wù)體系，為客戶提供低成本、高可靠性的微觀分析解決方.

二手JEOL IT-500HR場(chǎng)發(fā)射電鏡屬于掃描電子顯微鏡，歸為 InTouchScope™系列，憑借高亮度電子槍與優(yōu)化的透鏡系統(tǒng)，兼顧高分辨率成像與高效元素分析能力，適配多領(lǐng)域樣品觀測(cè)與成分檢測(cè)需求。

二手 日立CD-SEM 掃描電鏡S-9380（臨界尺寸掃描電子顯微鏡）設(shè)備在半導(dǎo)體制造和納米材料研究領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用

二手HITACHI S-4800掃描電子顯微鏡冷場(chǎng)發(fā)射電子源提供1.0 nm超高分辨率成像，0.5-30 kV連續(xù)可調(diào)電壓精準(zhǔn)適配各類樣品，配合E×B技術(shù)實(shí)現(xiàn)SE/BSE信號(hào)自由切換，10mm2能譜儀可快速完成Be到U的全元素分析。

二手日立 SU-8230 冷場(chǎng)超高分辨掃描電鏡主要功能及應(yīng)用范圍：微區(qū)形貌、微區(qū)成分分析。可以觀察和檢測(cè)非均相有機(jī)、無機(jī)材料，及這些材料在納米、微米級(jí)樣品的表面特征。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料、高分子材料、半導(dǎo)體材料、化工原料、地礦物品、寶石文物等微觀形貌的研究及公安刑偵的物證分析。

二手 牛津 EBSD NordlysMax3實(shí)時(shí)采集、標(biāo)定和顯示結(jié)果速度高達(dá)1580點(diǎn)/秒 AZtec EBSD提供全面采集性能 同時(shí)采集分析EBSD和EDS數(shù)據(jù)，速度不衰減 同時(shí)保持高靈敏度和高靈活性 它將成為您電鏡上的一名新成員

二手 JSM日本電子--IT100/IT500掃描電鏡應(yīng)用于無機(jī)材料、高分子材料、復(fù)合材料、納米材料、半導(dǎo)體等材料中 ? 表面形貌觀察 ? 組織結(jié)構(gòu)觀察 ? 顆粒大小分析 ? 斷面性質(zhì)分析 ? 微區(qū)成份分析。

Hitachi 二手SU5000熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡允許在高真空和可變壓力模式之間進(jìn)行簡(jiǎn)單的切換。樣品室可容納大型樣品（-200mmφ，-80mmH）。使用無場(chǎng)光學(xué)元件和可變壓力輕松對(duì)任何類型的樣品進(jìn)行成像，最多可同時(shí)提供4個(gè)信號(hào)，3D MultiFinder工具，使樣品可以輕松傾斜和旋轉(zhuǎn)，影像依然保持居中和聚焦。